עלעקטראָמאַגנעטישע פלוסמעטערס

• פאַראַדיי'ס געזעץ פּרינציפּ
• ±0.5% אַקיעראַסי אין קאַנדאַקטיוו פליסיקייטן
• קיין דרוק פאַל
• PTFE ליינינג פֿאַר כעמישער קעגנשטעל

וואָרטעקס פלאָומעטערס

• וואָרטעקס שאָדן פּרינציפּ
• אידעאל פֿאַר לופט/זויערשטאָף שטראָם מעסטונג
• ווייבריישאַן-קעגנשטעליק מאָדעלס בנימצא
• ±1% פון ראַטע אַקיעראַסי

pH/ORP מעטערס

פּראָצעס קייט: 0-14 pH
גענויקייט: ±0.1 pH
רעקאָמענדירט שטאַרקע קעראַמישע פֿאַרבינדונגען

DO סענסאָרן

אָפּטיש מעמבראַן טיפּ
קייט: 0-20 מג/ל
אויטאָ-רייניקונגמאָדעלס אvaצוטריטלעך

קאָנדואַקטיוויטעט מעטערס

קייט: 0-2000 מס/ק"מ
±1% פולע וואָג אַקיעראַסי
שאַצט TDS און זאַלץ לעוועלס

קאָד אַנאַליזאַטאָרן

קייט: 0-5000 מג/ל
UV אדער דיכראָמאַט מעטאָדן
פארלאנגען וועכנטליכע קאליבראציע

TP אנאליזירער

דעטעקציע לימיט: 0.01 מג/ל
פאָטאָמעטרישע מעטאָדע
עסענציעל פֿאַר NPDES קאָנפאָרמאַטי

NH₃-N אנאליזירער

סאַליסיליק זויער מעטאָד
קייט: 0-100 מג/ל
קוועקזילבער-פֿרײַע אַלטערנאַטיוון

אולטראַסאָניק לעוועל מעטערס

• נישט-קאָנטאַקט מעסטונג
• ראַנגע ביז 15 מעטער
• ±0.25% גענויקייט
• שאום-דורכדרינגענדיקע אלגאריטמען

שלאַם צובינד מעטערס

• מולטי-סענסאָר אַררייז
• 0.1% רעזאָלוציע
• רעאַל-צייט געדיכטקייט פּראָופיילינג
• רעדוצירט כעמיקאַל באַניץ מיט 15-20%

רעגולערע קאליבראציע

פּרעווענטיוו וישאַלט

דאַטן אינטעגראַציע